Разработаны защитные метки от подделок, видимые в только под определенным углом

МОСКВА, 25 июля. /ТАСС/. Исследователи из России разработали уникальные защитные метки на базе ассиметричных наноструктур, которые становятся видимыми и меняют определенным образом цвет только под конкретным углом засветки. Данная разработка поможет защитить оптические чипы, сенсоры и прочие компоненты электроники от подделки, сообщила пресс-служба ИТМО.