Разработаны методы контроля качества полупроводников для электроники будущего

САНКТ-ПЕТЕРБУРГ, 11 марта. /ТАСС/. Ученые Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета "ЛЭТИ" разработали методы контроля качества полупроводников из карбида кремния для производства электроники будущего. Технология позволяет характеризовать дефекты на высоком уровне в промышленных масштабах, сообщили ТАСС в вуза.